Hoya激光是一种常见的材料分析仪器，作为一种高精度、多功能、非接触式的材料分析仪器，广泛应用于半导体器件测试、材料研究、微观结构分析等领域，具有重要的应用价值和发展前景。
主要特点：
(1)高精度：Hoya激光采用高精度的测量系统和成像系统，可以实现微米级的测量和成像精度。
(2)多功能：该仪器不仅可以测量半导体器件的电学性能，还可以测量材料的光电性能，具有多种功能和应用。
(3)非接触式：Hoya激光采用非接触式测量方式，可以减少测试时对器件的干扰和损伤。
(4)高效率：该仪器具有高效率的测试和成像功能，可以快速完成大量测试和分析工作，提高实验效率。
(5)易操作：Hoya激光操作简单，易于使用和维护。
主要应用：
(1)半导体器件测试：Hoya激光主要用于半导体器件的测试和分析，可以测量器件的电学性能、光电性能等参数。
(2)材料研究：该仪器还可以用于材料的光电性能研究，如太阳能电池、光催化材料等。
(3)微观结构分析：Hoya激光还可以用于微观结构的分析和观察，如微型元器件、微型结构等。
Hoya激光-探针台系统
l 本显微镜是在金相显微镜基础上导入另一路光源，用于辐照样品以测试样品在特定波长及能量下的电气特性等测试目的。
l 本显微镜设计为双光路或3光路，其中一路为导入光通路，另一到两路为成像光路导入光为平行的激光或其它线性光源，波长范围200nm~20000nm，中间可加入多个波片过滤，起偏及偏振角度无级360度调节。光斑辐照直径有650nm红光指示。
l 所有模块均可拉出设计，对导入光性质无影响。导入光光路可选择一个光时间开关，精确控制导入光的辐照时间，精度1ms，范围2ms~∞，在控制界面上可对各种参数进行详细设置。
成像光路为同轴照明金相成像，其中一路为1倍成像，可选择第2路成像，为物镜的0.25~10倍率，通常在高低温测试系统里会用到，同一个物镜不切换，得到两个不同视野的成像。
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