产品展示
SH系列双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用 于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。时间：2022-12-12型号：SH系列厂商性质：经销商浏览量：95
FA(失效分析)专用激光探针台系统 失效分析实验室专用（芯片去层/线路或Pad切割与熔接电性能测试验证）时间：2022-12-12型号：FA厂商性质：经销商浏览量：188
光电流测试显微镜-探针台系统是在金相显微镜基础上导入另一路光源，用于辐照样品以测试样品在特定波长及能量下的电气特性等测试目的。时间：2022-12-08型号：厂商性质：经销商浏览量：103
共 4 条记录，当前 1 / 1 页 首页 上一页 下一页 末页 跳转到第页
咨询电话
联
系
我
们
系
我
们