3分钟带你详细了解显微分光膜厚仪的10大特色功能

更新时间：2021-04-26

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显微分光膜厚仪广泛应用于各种薄膜、涂层光学常数(nandk)和厚度的精确测量，设备分为在线和离线两种工作模式，操作便捷，几秒钟内即可完成测量和数据分析，USB连接计算机控制；薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。

显微分光膜厚仪特色功能：

•使用显微光谱法在微小区域内通过绝.对反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。

•可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件。

•头部集成了薄膜厚度测量所需功能

•通过显微光谱法测量高精度绝.对反射率（多层膜厚度，光学常数）

•1点1秒高速测量

•显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）

•区域传感器的安全机制

•易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析

•独立测量头对应各种inline客制化需求

•支持各种自定义

测量项目：

•绝.对反射率测量

•多层膜解析

•光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）