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3分钟带你详细了解显微分光膜厚仪的10大特色功能

发表时间:2021-04-26  |  点击率:50

    显微分光膜厚仪广泛应用于各种薄膜、涂层光学常数(nandk)和厚度的精确测量,设备分为在线和离线两种工作模式,操作便捷,几秒钟内即可完成测量和数据分析,USB连接计算机控制;薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术,我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。

    显微分光膜厚仪特色功能:

    •使用显微光谱法在微小区域内通过绝.对反射率进行测量,可进行高精度膜厚度/光学常数分析。

    •可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。测量时间上,能达到1秒/点的高速测量,并且搭载了即使是初次使用的用户,也可容易出分析光学常数的软件。

    •头部集成了薄膜厚度测量所需功能

    •通过显微光谱法测量高精度绝.对反射率(多层膜厚度,光学常数)

    •1点1秒高速测量

    •显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)

    •区域传感器的安全机制

    •易于分析向导,初学者也能够进行光学常数分析

    •独立测量头对应各种inline客制化需求

    •支持各种自定义

    测量项目:

    •绝.对反射率测量

    •多层膜解析

    •光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)

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