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OPTM 系列显微分光膜厚仪$n 测量项目:$n$n• 绝.对反射率测量$n$n• 多层膜解析$n$n• 光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)
半导体晶圆缺陷检测仪利用亮场和暗场显微成像技术,通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具,为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案。
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位・粒径及分子量。
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