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Keithley 4200半导体特性分析系统

简要描述:Keithley 4200半导体特性分析系统
使用 4200A加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-03-19
  • 访  问  量:1215

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详细介绍

品牌其他品牌应用领域医疗卫生,环保,生物产业,农业,地矿

Keithley 4200半导体特性分析系统

• 使用 4200A加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。

• 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语

• 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试

• 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

• 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

• 用户可配置低电流功能,个性化输出通道名称,查看实时测试状态

• NBTI/PBTI 测试,随机电报噪声,非易失内存设备,稳压器应用测试

型号

说明

4200A-SCS-PK1

210V/100mA,0.1 fA 分辨率,对于两端和三端设备,MOSFET、CMOS 检定套件4200A-SCS-PK1 包括:

高分辨率 IV 套件

4200A-SCS 参数分析仪

4200-SMU 模块

4200-PA 前置放大器

8101-PIV 测试夹具与采样设备

4200A-SCS-PK2

210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,对于高 K 电解质,深亚微米 CMOS 检定套件4200A-SCS-PK2

高分辨率 IV 和 CV 套件

包括:

4200A-SCS 参数分析仪

4200-SMU 模块

4200-PA 前置放大器

4210-CVU 电容-电压模块

8101-PIV 测试夹具与采样设备

4200A-SCS-PK3

210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,对于功率设备、高 K 电解质,深亚微米 CMOS 设备检定套件

高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件

4200A-SCS-PK3 包括:

4200A-SCS 参数分析仪

4200-SMU 模块

4210-SMU

4200-PA 前置放大器

4210-CVU 电容-电压模块

8101-PIV 测试夹具与采样设备

4200-BTI-A

用于使用尖.端 CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量4200-BTI-A 包括:

超快 NBTI/PBTI 套件

4225-PMU 超快 I-V 模块

4225-RPM 远程前置放大器/开关模块

自动化检定套件 (ACS) 软件

超快 BTI 测试项目模块

电缆

 Keithley 4200半导体特性分析系统

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