产品中心
PRODUCTS CNTER
相关文章
ELSZ series的最zu高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。 全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。
更新时间：2025-12-24
产品型号：
浏览量：884
●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。 ●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）。
更新时间：2025-12-24产品型号：浏览量：932
利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
更新时间：2025-12-24产品型号：浏览量：729
●Φ支持到300mmEFM单元备用端口的集成 ●实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐 ●支持半导体工艺的高吞吐量要求 ●支持槽口对齐功能 ●小尺寸规格 ●高精度自动校准单元
更新时间：2025-12-24产品型号：浏览量：821
半导体晶圆缺陷检测仪利用亮场和暗场显微成像技术，通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具，为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案。
更新时间：2025-12-24产品型号：浏览量：10238
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。
更新时间：2025-12-24产品型号：ELSZ-2000系列浏览量：8726公司邮箱： qgao@buybm.com
服务热线： 021-61052039
公司地址： 上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造C7区五楼
Copyright © 2026 上海波铭科学仪器有限公司 AlL Rights Reserved
备案号：沪ICP备19020138号-2
技术支持：化工仪器网 管理登录 sitemap.xml
关于我们
公司简介 企业文化 荣誉资质 联系我们快速通道
产品中心 新闻中心 技术文章 在线留言推荐产品
OPTM 系列显微分光膜厚仪 RU120便携式拉曼光谱仪 半导体晶圆缺陷检测仪 ELSZ-2000系列ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统
当前位置：
产品分类