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半导体材料测试

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共聚焦拉曼光谱仪的优势特点及维护保养方式

射频信号发生器的主要组件及产品优点

这份资料帮助你快速了解氦氖激光器的三种主要结构

便携式拉曼光谱仪的产品应用原理简述

SIRM红外体微缺陷分析仪

SIRM是非接触和非破坏型光学检测设备，对体微缺陷，如氧化物和金属沉淀，位错、堆垛层错，体材料中的滑线和空隙等进行测试。这个技术也可对GaAs 和 InP等复合材料进行测试。

更新时间：2025-05-07

产品型号：

浏览量：742
LST体微缺陷测试设备

LST是检测半导体材料的体微缺陷有力工具，通过CCD相机，对入射光在样品边沿的散射进行扫描，获得体微缺陷分布信息。

更新时间：2025-05-07

产品型号：

浏览量：608
非接触迁移率测试系统

LEIModel1605，是非接触迁移率测试系统，可对各种半导体材料和器件结构进行测试。无需制样，消除了样品制备引起的迁移率变化。

更新时间：2025-05-07

产品型号：LEIModel1605

浏览量：503
非接触方块电阻测试系统

LEI88 是针对科研类客户开发的产品，具备非接触快速测试方块电阻和电导率功能。

更新时间：2025-05-07

产品型号：LEI88

浏览量：562
非接触Hall和方块电阻测试系统

非接触Hal和方块电阳测试系统，可对GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各种半导体材料设计的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件结构进行测试。

更新时间：2025-05-07

产品型号：

浏览量：607
SRP 扩展电阻测试

SRP 测试系统，采用扩展电阻率技术(SRP)，对载流子浓度和电阻率随深度的变化做快速测试。

更新时间：2025-05-07

产品型号：

浏览量：1136

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