News Center

新闻中心

当前位置:首页  >  新闻中心  >  一文读懂高光谱测试系统的测试原理及方法

一文读懂高光谱测试系统的测试原理及方法

更新时间:2022-05-25      点击次数:732
 
  高光谱测试系统是高光谱相机、显微镜、计算机等结合的新型应用方式,借助显微镜结构在不同放大倍率下把待测试样品的微观尺度进一步的提升的特点,能够充分观察物质在其微观尺度上的图像信息,从而进一步获取物质的光谱信息,这样充分利用高光谱在光谱和图像方面的优势,结合显微机构系统,把高光谱技术的应用又进一步进行了拓展。
 
  高光谱测试系统的测试原理及方法:
 
  高光谱成像技术是近二十年来发展起来的基于非常多窄波段的影像数据技术,其突出的应用是遥感探测领域,并在越来越多的民用领域有着更大的应用前景。它集中了光学、光电子学、电子学、信息处理、计算机科学等领域的先进技术,是传统的二维成像技术和光谱技术有机的结合在一起的一门新兴技术。
 
  高光谱成像技术的定义是在多光谱成像的基础上,在从紫外到近红外(200-2500nm)的光谱范围内,利用成像光谱仪,在光谱覆盖范围内的数十或数百条光谱波段对目标物体连续成像。在获得物体空间特征成像的同时,也获得了被测物体的光谱信息。
 
  光谱仪的光谱分辨率由狭缝的宽度和光学光谱仪产生的线性色散确定。最小光谱分辨率是由光学系统的成像性能确定的(点扩展大小)。
 
  成像过程为:每次成一条线上的像后(X方向),在检测系统输送带前进的过程中,排列的探测器扫出一条带状轨迹从而完成纵向扫描(Y方向)。综合横纵扫描信息就可以得到样品的三维高光谱图像数据。
 
  利用显微高光谱系统在10X倍的物镜下能够观察到LED光源上的微观构造,并且能够准确的测试到不同led光源对应的特征波长,而且图像也非常的清晰(实际测试时样品并非*平整),通过焦距调试,能够凸显出光源自身的一些特征信息。
 
全国客服
咨询热线
021-61052039 在线留言

公司地址:上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造J6区202室
公司邮箱:zjlv@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波铭科学仪器有限公司 版权所有    备案号:沪ICP备19020138号-2    sitemap.xml    技术支持:化工仪器网    管理登陆