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高光谱测试系统

简要描述:高光谱测试系统基于offner型的凸面光栅分光系统,其原理新颖,相比较其他分光系统具有光学相对孔径大、色散线性度好、结构 紧凑和图像成像质量佳等优点。

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-23
  • 访  问  量:882

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高光谱测试系统

 

  • 基于offner型的凸面光栅分光系统,其原理新颖,相比较其他分光系统具有光学相对孔径大、色散线性度好、结构 紧凑和图像成像质量佳等优点。该种类型组成的成像光谱仪在效率(能量利用率)和光学畸变相比较其他类型的成 像光谱仪中性能表现.佳。系统中由于采用专门研制的闪耀光栅,平均效率高达60%以上,替代了美国headwall 高效率成像光谱仪系列产品(注:该类型产品被美国列为为禁运)。匹配的相机采用SCMOS相机,平均量子效率 高达60%,灵敏度和性能达到了EMCCD 相机的水平。

高光谱测试系统核心优势:

  • 全反射光学设计; F/2.2 大通光孔径
  • 高效率凸面光栅;消除梯形失真和曲线弯曲
  • 宽波谱范围;杰出的光谱/空间分辨率
  • 理想的弱照明、弱信号环境下的应用
  • 结构紧凑、宽视场角
  • 非常高的信噪比;低散射或者杂散光水平
  • 稳定和耐用的坚固设计;高性价比,多种标准镜头选配

名称

VNIR成像光谱仪

SWIR成像光谱仪

SWIR成像光谱仪

光谱范围(nm)

400-1000

900-1700

1000-2300

分光类型

凸面光栅分光

光谱分辨率(狭缝25um)

3-4 nm

优于10 nm

10nm

光谱分辨率(狭缝12um)

1.5-2 nm

优于5nm

/

光学孔径F/#

F/2.2

狭缝高度

12mm

像素色散值

0.6nm

3.6nm/pixel

7nm

光谱波长精度(nm)

优于1

优于2

优于4

光学系统效率(平均)

60%

光谱通道

256-1152(可编程)

220

空间通道

2048

320

SCMOS相机

像元:6.5um*6.5um像元 数:2048*1152 QE>70%@595nm

像元:15um*15um 像元数:640*512

像元:30um*30um 像元数:320*256

数据量化位数

16

12

前置镜头

焦距17mm

焦距4.8-70mm,可选配

仪器重量(kg)

4.2

4.5

尺寸(mm)

215*175*110

260*175*110

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