MHS400V-4P探针冷热台是一款专门针对半导体芯片研发、测试而设计的产品。这款探针冷热台拥有高精度的探针位移平台，具有良好的真空性能和精准的温控系统。

MHS-P600G探针冷热台是一款针对材料研究过程中变温电学测试而设计的产品，可表征材料升温和降温阶段，其电学性能随温度变化的特征。 热台可以搭配显微镜，光谱仪，XRD等光学设备。 MHS-P600G可以在-196℃~600℃之间快速且精准的控制样品的温度，实现样品在气密环境下的变温光学观察及测试。

PSM-LN2系列液氮高低温探针台能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80K-800K高低温真空测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测，用于低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

PSM-4K系列低温探针台是一款闭循环低温探针台，紧凑型及低振动的设计，能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个＜5K-350K高低温真空测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成材料/器件的IV、CV、光学以及微波等参数检测，实现低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

广泛用于图象表征各种热转变过程，能够直接用于观察样品在加热或冷却过程中的形态变化以及结晶过程中形状、结构、颜色以及大小和数量的变化

BM600G-4P探针冷热台是一款针对半导体芯片研发，测试而专门设计的产品。热台拥有高精度的探针位移平台。