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漫反射率测试系统

产品简介

漫反射率测试系统光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内；（近红外区）,漫反射率测试系统光度测量重复性：1% (450nm-1800nm) ；测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测试透过率，则样品厚度必须小于5mm

产品型号：S-MRS系列
更新时间：2025-04-23
厂商性质：生产厂家
访问量：1978
产品咨询 18117546256

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S-MRS系列漫反射率测试系统应用：

• 光谱测量范围：350-2500nm ;光谱分辨率：2nm以下；光谱扫描步距：0.2-100nm可连续设置

• 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm；（近红外区）

• 光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内；（近红外区）

• 光度测量重复性：1% (450nm-1800nm) ；测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测试透过率，则样品厚度必须小于5mm

S-MRS系列漫反射率测试系统特点

• 光谱测量范围：350-2500nm ;光谱分辨率：2nm以下；光谱扫描步距：0.2-100nm可连续设置

• 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm；（近红外区）

• 光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内；（近红外区）

• 光度测量重复性：1% (450nm-1800nm) ；测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测试透过率，则样品厚度必须小于5mm

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