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    半导体晶圆缺陷检测仪利用亮场和暗场显微成像技术，通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具，为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案。

    更新日期：2024-04-23
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    厂商性质：生产厂家
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