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PRODUCTS CNTER● 采用分光干涉法● 搭载高精度FFT膜厚解析系统(专zhuan利 第4834847号)● 使用光学光纤,可灵活构筑测量系统● 可嵌入至各种制造设备。● 实时测量膜厚● 可对应远程操作、多点测量● 采用寿命长、安全性高的白色LED光源
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上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。
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