Product Center

产品中心

当前位置:首页  >  产品中心  >  光谱系统  >  显微缺陷膜厚  >  相位差测量装置 RETS-100nx New

相位差测量装置 RETS-100nx New

简要描述:采用了偏光光学系和多通道分光检出器

有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板

安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-11-08
  • 访  问  量:126

推荐产品

详细介绍

品牌OTSUKA/日本大冢

产品信息

特 点

● 采用了偏光光学系和多通道分光检出器
● 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板
● 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备

测量项目

● 封入cell gap
● twist角
● rubbing角
● pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA]
● 空cell gap
● 相位差(复折射相位差)的波长分散
● 光学轴
● 椭圆率/方位角
● 三次元折射率/Rth/β
● 分光光谱/色度

测量对象

● 液晶cell
- 透过、半透过型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
● 光学材料
- 其他(相位差?椭圆?偏光膜、液晶材料)

仕 样

型号RETS series
样品尺寸20mm×20mm ~ *
cell gap测量范围0.1μm ~ 数10μm
cell gap重复性±0.005μm
检出器多通道分光光度计
测量波长范围400nm ~ 800nm
光学系
透过用偏光子unit
偏光光学系
消光比 10-5内置Gran-tomson prism(方解石)
自动旋转(角度精度0.1°)、自动装卸机构
测量口径φ2, φ5, φ10 (mm)
光轴倾斜机构-20 ~ 45°、-45 ~ 45°等

* 大型玻璃基板也可用(2000mm×2000mm以上)

测量案例

相位差与液晶层间隙值

相位差测量装置 RETS-100nx New

液晶面内分布图

相位差测量装置 RETS-100nx New


产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
全国客服
咨询热线
021-61052039 在线留言

公司地址:上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造J6区202室
公司邮箱:qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波铭科学仪器有限公司 版权所有    备案号:沪ICP备19020138号-2    sitemap.xml    技术支持:化工仪器网    管理登陆