线扫描膜厚仪（离线型）

产品简介
●全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

●硬件&软件均为创新设计

●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援

●实现高精度测量（已取得专zhuan利）

●实现高速测量（500万点以上/分）

产品型号：

更新时间：2025-01-14

厂商性质：生产厂家

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光谱系统

显微缺陷膜厚半导体晶圆缺陷检测仪高光谱测试系统瞬态吸收系统太阳能电池量子效率太阳光模拟器IV系统显微光电流成像系统探测器光响应度系统光谱变温附件探针台拉曼SERS增强试剂显微荧光系统组合荧光系统镜头透过率测试系统漫反射率测试系统反射、吸收率系统成像亮度计标准灯参考辐射定标电致发光系统常规发射光谱系统共聚焦拉曼光谱仪

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产品信息

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线扫描膜厚仪（离线型）

测量案例

250mm宽的薄膜案例

上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展，上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度，客户遍布全国。我们将继续努力，不断提升市场地位和影响力。

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