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PRODUCTS CNTER● 可测从0nm开始的低(残留)相位差● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)(相当于世界jie最zui快速的0.1秒以下来处理)● 无驱动部,重复再现性高● 设置的测量项目少,测量简单● 测量波长除了550nm以外,还有各种波长● Rth测量、全quan方位角测量(需要option的自动旋转倾斜治具● 通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性(本系统属特注。)
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● 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
● 主轴方位角(θ[deg.])
● 椭圆率(ε)?方位角(γ)
● 三次元折射率(NxNyNz)
● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明、非均质材料(玻璃有变形,歪曲等)
● 什么是RE-200
● RE-200是光子结晶素子(偏光素子)、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合,可高速且高精度的测量位相差(相位差)、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式,没有偏光子旋转的机构,系统整体上是属于小型构造,长时间使用也能维持稳定的性能。
执行拟合/傅立叶变换以计算椭圆度 ε 和方位角 γ。
型号 | RE series |
---|---|
样品尺寸 | 最小10×10mm ~最大100×100mm |
测量波长 | 550nm (标准仕样)※1 |
相位差测量范围 | 约0nm ~约1μm |
轴检出重复精度 | 0.05°(at 3σ) ※2 |
检出器 | 偏光计测模块 |
测量光斑直径 | 2.2mm×2.2mm |
光源 | 100W 卤素灯或 LED光源 |
本体?重量 | 300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、约20kg |
Option
● Rth测量、全quan方位角测量※治具本体(旋转:180°, 倾斜:±50°)
● 动旋转倾斜治具
视角改善膜A
视角改善膜B
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