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NEWS INFORMATION显微分光膜厚仪采用检量线法和FP法,可防止在对焦时造成的损坏
2023-02-06 显微分光膜厚仪利用光学干涉仪和自有的高精度分光光度计,实现非接触、无损、高速、高精度的薄膜厚度测量。光学干涉测量法是一种使用分光光度计的光学系统获得的反射率来确定光学膜厚的方法。以涂在金属基板上的薄膜为例,从目标样品上方入射的光被薄膜表面(R1)反射。此外,穿过薄膜的光在基板(金属)和薄膜界面(R2)处被反射。测量此时由于光程差引起的相移所引起的光学干涉现象,并根据得到的反射光谱和折射率计算膜厚的方法称为光学干涉法。显微分光膜厚仪的作用特点:1、自动对焦作用。配备激光自动对焦...公司邮箱: qgao@buybm.com
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