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当前位置:首页产品中心光电探测器CCDRegulus 60深度制冷型CCD探测器

深度制冷型CCD探测器

产品简介

Regulus 60 为水冷背照式线阵 CCD 探测器,200~1100nm 紫外-近红外宽光谱响应,依托高量子效率、大满阱、超高动态范围、低温低噪声、高线性核心优势,弱光探测性能突出;软硬件拓展性强,适配单色仪对接与系统二次集成,多用于拉曼、荧光、紫外可见吸收光谱、光电标定等科研光谱检测场景。

产品型号:Regulus 60
更新时间:2026-08-23
厂商性质:生产厂家
访问量:5
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Ø    产品概述:

Regulus 60 为水冷背照式线阵 CCD 探测器,200~1100nm 紫外-近红外宽光谱响应,依托高量子效率、大满阱、超高动态范围、低温低噪声、高线性核心优势,弱光探测性能突出;软硬件拓展性强,适配单色仪对接与系统二次集成,多用于拉曼、荧光、紫外可见吸收光谱、光电标定等科研光谱检测场景。


Ø    技术规格

型号                    

Regulus 60                    

探测器类型                    

背照式 CCD                    

分辨率                    

2048(H) × 60(V)                    

单个像素尺寸                    

14 × 14 μm                    

感光区域                    

28 × 0.9 mm                    

光谱响应范围                    

200 ~ 1100 nm                    

峰值量子效率                    

92% @ 700 nm                    

满阱容量                    

300 ke                    

读出噪声                    

3.5 e                    

动态范围                    

80000 @ 25 kHz                    

散热方式                    

水冷,制冷温度低于环境温度 85 ℃                    

暗电流噪声                    

0.015 e/pixel/s @ -60   ℃                    

线性度                    

97 %                    

数据位深                    

16 bit                    

读出方式                    

线合并读出 / 二维逐像素读出                    

最小曝光时间                    

10 ms                    

数据接口                    

USB 2.0                    

外触发接口                    

SMATTL / 0~3.3 V 电平                    

光学接口                    

自由空间(可提供各类型单色仪转接件)                    

外形尺寸                    

135.0 × 120.0 ×   114.0 mm                    

整机重量                    

2.0 kg                    

运行环境                    

温度 0~40 ℃,湿度<55 %                    

储存环境                    

温度 0~40 ℃,湿度<90 %                    

配套 SDK                    

CC++C#LabVIEW                    

配套软件                    

trView                    

注:

1.    满阱容量:单个像素能够存储的最大电子数量,大满阱可有效防止图像过曝,直接影响动态范围和图像质量。

2.    读出噪声:信号读取过程中,读出电路引入到像素测量值的随机不确定性噪声,对信噪比与成像质量至关重要。

3.    动态范围:探测器满阱容量与读出噪声的比值,代表传感器可探测的信号跨度,高动态范围可实现优质成像。

4.    暗电流噪声:无光环境下,芯片自身与电路生成的基底噪声,受温度影响显著,直接限制整机动态范围。



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