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荧光量子效率测试系统

简要描述:QE-2000荧光量子效率测试系统瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域 的杂散光。

  • 产品型号:QE-2000
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-03-18
  • 访  问  量:878

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详细介绍

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 QE-2000荧光量子效率测试系统

  • QE-2000瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域 的杂散光。另采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系的同时,运用其再激发荧光補正的优点,可进行高精度的测量。
  • 高精度测量(专.利:5150939号):使用低杂散光光谱仪MCPD系列
  • 多次激发补正(专.利:3287775号、4631080号):大.程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发对粉末和固体测试精度提高明显(世界范围内独.家
  • 使用积分半球(专.利:4216314号):是普通积分球测试效率的2倍,更易于样品的装夹,更换简单(世界范围内独.家
  • 多种样品都能对应:粉体、溶液、薄膜、固体等等
  • 可添加温控系统:-30~300℃

QE-2000荧光量子效率测试系统

型号

3683C

311C

2580C

3095C

波长范围

360-830nm

360-1100nm

250-800nm

300-950nm

像元波长宽度

1.0nm

0.5nm

1.6nm

0.8nm

1.2nm

0.6nm

1.4nm

0.7nm

像元数

512

1024

512

1024

512

1024

512

1024

CCD

电子冷却式CCD图像传感器

AD转换精度

16 bit

单色器配置

F/#=3, f=85.8mm

光源

150W氙灯

激发波长

250-800nm

带宽

FWHM 5nm/slit 0.6mm

样品抗光装置

自动关闭装置

激发波长控制

自动控制

积分球材质

Spectralon(美国Labsphere公司专.利材料名)

尺寸

150mm 半球

粉末测试样 品座

SU304

溶液样品池

石英制溶液比色皿

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