产品中心

PRODUCTS CNTER

当前位置:首页产品中心光谱系统显微缺陷膜厚分光辐射照度测量系统

分光辐射照度测量系统

产品简介

该检测器 是一种高性能的分光光度计 ,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围

产品型号:
更新时间:2025-01-14
厂商性质:生产厂家
访问量:240
详细介绍在线留言

产品信息

特殊长度

该检测器
是一种高性能的分光光度计,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。

覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围

带软件的样品照明电源,测量仪器批量控制
LIV测量,脉冲点测量,样品温控测量

设备校准的标准灯由我们自己的部门提供,并由 JCSS 校准公司注册。

 

评价项目

照度、辐照度

光谱数据(光谱辐照度)

其他测量项目
三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、
u’v’相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显
色指数 Ra、R1 至 R15
峰值波长、半宽
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

设备构成

    单点型

分光辐射照度测量系统

半导体晶圆的面内分布测量

玻璃基板的面内分布测量

 

        多点型

分光辐射照度测量系统

实时测量

流向品质管理

真空室适用

 

        导线型

分光辐射照度测量系统

实时测量

宽度方向品质管理

测量案例

   超硬涂层的膜厚解析

分光辐射照度测量系统

在线留言

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

Copyright © 2025 上海波铭科学仪器有限公司 Al Rights Reserved
备案号:沪ICP备19020138号-2

技术支持:化工仪器网   管理登录   sitemap.xml

扫码添加微信
微信

联系

18117546256

联系
顶部