Product Center

产品中心

当前位置:首页  >  产品中心  >  光学测试系统  >  

  • S-LBIC光电流成像

    光电流成像是一种用于表征材料或器件的光电特性的成像技术。该技术通过在器件或材料表面照射光源,并测量其产生的电流信号,来获得材料或器件的空间分布信息。

    更新日期:2024-03-18
    型号:S-LBIC
    厂商性质:生产厂家
  • S-DSR探测器光谱响应测试系统

    S-DSR探测器光谱响应测试系统 • 宽光谱范围(200~14000nm可选),适用面广 • 调制法测量技术,提升测量结果信噪比 • 开机即用的Turnkey系统设计,维护简单 • 监视光路,方便样品定位 • 全反射光路设计,优化光斑质量 • 高稳定性光源,降低背景噪声影响 • 标准测量软件,数据导出格式支持第三方软件

    更新日期:2024-03-18
    型号:S-DSR
    厂商性质:生产厂家
  • 光谱变温附件/探针台

    光谱变温附件/探针台 THMS600 是使用.为广泛的高精度冷热台。其宽泛的温度范围(-196°C到 600°C)和升温速 率(0.1 到 150°C/min),以及高精度(全程 0.1°C)和高稳定(0.01°C),使其在各行业得 到广泛的应用。

    更新日期:2024-03-18
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • SERS增强试剂

    波铭科仪销售的多种SERS增强试剂、SERS芯片,均是经过严格反复试验、验证、摸索制备而成,各项性能指标都很优 良,能满足大多数生物分子、染料分子及其他分析物分子的拉曼检测,稳定性高,拉曼增强效应强。

    更新日期:2024-03-18
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • QE-2000荧光量子效率测试系统

    QE-2000荧光量子效率测试系统瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域 的杂散光。

    更新日期:2024-03-18
    型号:QE-2000
    厂商性质:生产厂家
  • S-MPL系列显微荧光成像系统

    S-MPL系列显微荧光成像系统 光致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、 可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光,在半 导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光(波 长如325nm、532nm、785nm等)激发材料(如 GaN、ZnO、GaAs等)产生荧光,通过对其荧光光谱(即PL谱)的测量,分析该材料的光学特性,如禁带宽 度等。

    更新日期:2024-03-18
    型号:S-MPL系列
    厂商性质:生产厂家
共 33 条记录,当前 4 / 6 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
全国客服
咨询热线
021-61052039 在线留言

公司地址:上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造J6区202室
公司邮箱:zjlv@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波铭科学仪器有限公司 版权所有    备案号:沪ICP备19020138号-2    sitemap.xml    技术支持:化工仪器网    管理登陆