产品中心

PRODUCTS CNTER

当前位置:首页产品中心半导体材料测试半导体多功能测试WT-2000半导体多功能测试

WT-2000半导体多功能测试

产品简介

WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激发光,适合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各种材料电学参数测试。

产品型号:
更新时间:2025-01-23
厂商性质:生产厂家
访问量:236
详细介绍在线留言

· Measurement Options.
· μ-PCD 技术做少子寿命扫描测试
· 表面光电压(SPV)做扩散长度面扫描测试
· 光诱导电流(LBIC)测试材料缺陷分布
· 测试特定金属杂质和沾污:Fe
· 涡流法测试电阻率
· 4探针测试电阻率

WT-2000半导体多功能测试





上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。

在线留言

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

Copyright © 2025 上海波铭科学仪器有限公司 AlL Rights Reserved
备案号:沪ICP备19020138号-2

技术支持:化工仪器网   管理登录   sitemap.xml

扫码添加微信
微信

联系

18117546256

联系
顶部