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  • LEIModel1605非接触迁移率测试系统

    LEIModel1605,是非接触迁移率测试系统,可对各种半导体材料和器件结构进行测试。无需制样,消除了样品制备引起的迁移率变化。

    更新日期:2024-11-08
    型号:LEIModel1605
    厂商性质:生产厂家
  • LEI88非接触方块电阻测试系统

    LEI88 是针对科研类客户开发的产品,具备非接触快速测试方块电阻和电导率功能。

    更新日期:2024-11-08
    型号:LEI88
    厂商性质:生产厂家
  • 非接触Hall和方块电阻测试系统

    非接触Hal和方块电阳测试系统,可对GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各种半导体材料设计的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件结构进行测试。

    更新日期:2024-11-08
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • SRP 扩展电阻测试

    SRP 测试系统,采用扩展电阻率技术(SRP),对载流子浓度和电阻率随深度的变化做快速测试。

    更新日期:2024-11-08
    型号:
    厂商性质:生产厂家
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