Product Center

产品中心

当前位置:首页  >  产品中心  >  半导体材料测试  >  深能级瞬态谱测试

  • 深能级瞬态谱测试仪

    深能级瞬态谱仪(DLTS)是检测半导体材料和器件缺陷和杂质的最好技术手段,它可以测定各种深能级相关参数,如深能级,俘获界面,浓度分布等。

    更新日期:2024-11-08
    型号:
    厂商性质:生产厂家
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
全国客服
咨询热线
021-61052039 在线留言

公司地址:上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造J6区202室
公司邮箱:qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波铭科学仪器有限公司 版权所有    备案号:沪ICP备19020138号-2    sitemap.xml    技术支持:化工仪器网    管理登陆