深能级瞬态谱测试仪

产品简介
深能级瞬态谱仪(DLTS)是检测半导体材料和器件缺陷和杂质的最好技术手段，它可以测定各种深能级相关参数，如深能级，俘获界面，浓度分布等。

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更新时间：2025-04-23

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半导体材料测试

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Capability:

High sensitivity 高灵敏度
C-V characterization 深能级C-V测试
Capture cross section measurement 俘获界面测试
Optical injection 光注入
Conductance transient measurements 瞬态电导测试
Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基础测试
Cryostats LN2,低温致冷

深能级瞬态谱测试仪

上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展，上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度，客户遍布全国。我们将继续努力，不断提升市场地位和影响力。

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