深能级瞬态谱测试仪

产品简介
深能级瞬态谱仪(DLTS)是检测半导体材料和器件缺陷和杂质的最好技术手段，它可以测定各种深能级相关参数，如深能级，俘获界面，浓度分布等。

产品型号：

更新时间：2025-01-23

厂商性质：生产厂家

访问量：352

产品咨询 18117546256

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

半导体材料测试

体微缺陷测试霍尔电阻迁移率光伏光致发光深能级瞬态谱测试椭偏拉曼AFM 半导体多功能测试 CV测试系统集成测试仪器租赁

详细介绍在线留言

Capability:

High sensitivity 高灵敏度
C-V characterization 深能级C-V测试
Capture cross section measurement 俘获界面测试
Optical injection 光注入
Conductance transient measurements 瞬态电导测试
Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基础测试
Cryostats LN2,低温致冷

深能级瞬态谱测试仪

上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展，上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度，客户遍布全国。我们将继续努力，不断提升市场地位和影响力。

上一个：纳米压痕测试设备