产品中心

PRODUCTS CNTER

当前位置:首页产品中心半导体材料测试CV测试汞CV测试系统

汞CV测试系统

产品简介

汞CV测试系统,用于对外延或前道工艺中的non-pattemed晶片做汞C-V测试;

MCV-530L可测最大200mm的样品。

产品型号:
更新时间:2025-01-23
厂商性质:生产厂家
访问量:405
详细介绍在线留言

Capability:

  • Epi layer characterization
    -Dopant Profile-N(x)
    -Resistivity Profile-p(x)

  • Gate metrology
    -Oxide thickness-EOT
    -Flatland, threshold voltage-VFB,VT
    Effective oxide charge-QEFF
    -Dielectric constant-k
    -Interface state density-Dit

  • IV measurements of low-k dielectricsStepped voltage, stepped current,
    .Constant current modes
    -Leakage current-lL
    -VBDfor HMET
    -Field-to-breakdown-FBD
    -KSB, tsb,QBD, Vmax

汞CV测试系统 汞CV测试系统









上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。

在线留言

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

Copyright © 2025 上海波铭科学仪器有限公司 AlL Rights Reserved
备案号:沪ICP备19020138号-2

技术支持:化工仪器网   管理登录   sitemap.xml

扫码添加微信
微信

联系

18117546256

联系
顶部