汞探针测试

产品简介
LEI Model2017B，通过汞探针接触方法，对各类半导体材料的载流子浓度分布进行测试，特别适合GaN.SiC等化合物材料。

产品型号：LEI Model2017B

更新时间：2025-01-14

厂商性质：生产厂家

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半导体材料测试

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显微荧光光谱仪在科学研究和工业应用中发挥着重要作用

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