非接触Hall和方块电阻测试系统

产品简介
非接触Hal和方块电阳测试系统，可对GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各种半导体材料设计的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件结构进行测试。

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更新时间：2025-01-14

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半导体材料测试

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Capability:

快速，非破坏
霍尔系数
无需制样
方块电阻
霍尔迁移率
载流子浓度/密度

非接触Hall和方块电阻测试系统

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