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当前位置:首页产品中心半导体材料测试霍尔电阻迁移率LEI88非接触方块电阻测试系统

非接触方块电阻测试系统

产品简介

LEI88 是针对科研类客户开发的产品,具备非接触快速测试方块电阻和电导率功能。

产品型号:LEI88
更新时间:2025-01-14
厂商性质:生产厂家
访问量:233
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Capability:

  • 非破坏

  • 方块电阻/电导率测试

  • 适合科研应用






上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。


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