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SIRM红外体微缺陷分析仪

简要描述:SIRM是非接触和非破坏型光学检测设备,对体微缺陷,如氧化物和金属沉淀,位错、堆垛层错,体材料中的滑线和空隙等进行测试。

这个技术也可对GaAs 和 InP等复合材料进行测试。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-09-26
  • 访  问  量:107

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详细介绍

品牌波铭科仪价格区间面议
应用领域医疗卫生,环保,食品,生物产业,综合

Capability:

  • 无需制样

  • 最小测试缺陷尺寸10nm

  • 测试缺陷浓度范围:105-109cm-3

  • 可做外延片测试

  • 测试样品最大尺寸300mm

SIRM红外体微缺陷分析仪 SIRM红外体微缺陷分析仪








上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。


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