Product Center

产品中心

当前位置:首页  >  产品中心  >  半导体材料测试  >  体微缺陷测试  >  LST体微缺陷测试设备

LST体微缺陷测试设备

简要描述:LST是检测半导体材料的体微缺陷有力工具,通过CCD相机,对入射光在样品边沿的散射进行扫描,获得体微缺陷分布信息。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-09-26
  • 访  问  量:95

推荐产品

详细介绍

品牌波铭科仪价格区间面议
应用领域医疗卫生,环保,食品,生物产业,综合

Capability:

  • 物镜自动调节

  • 纳米级移动

  • 对缺陷浓度和尺寸更加灵敏

  • 测试尺寸:20nm到15nm

  • 缺陷浓度:1e5-2.5e10cm3

LST体微缺陷测试设备










上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
全国客服
咨询热线
021-61052039 在线留言

公司地址:上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造J6区202室
公司邮箱:qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波铭科学仪器有限公司 版权所有    备案号:沪ICP备19020138号-2    sitemap.xml    技术支持:化工仪器网    管理登陆