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半导体测试系统(含测试机)

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PNA系列、ENA、PXI VNA网络分析仪

网络分析仪主要特性和功能：$n· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案$n· 可以作为单个产品解决方案一次性购买$n· 对器件施加精确的调平功率，进行功率扫描$n· 提供各种应用软件，帮助您进行详细分析

更新日期：2024-04-23
型号：PNA系列、ENA、PXI VNA
厂商性质：生产厂家

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SH系列双面点针探针台

SH系列双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。

更新日期：2024-04-23
型号：SH系列
厂商性质：生产厂家

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FA失效分析探针台

失效分析探针台,FA(失效分析)专用激光探针台系统失效分析实验室专用（芯片去层/线路或Pad切割与熔接电性能测试验证）

更新日期：2024-04-23
型号：FA
厂商性质：生产厂家

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RF/mmW超高频测试探针台系统/射频测试

超高频测试探针台系统/射频测试RF/mmW超高频测试探针台系统可配合市场主流扩频模块进行超高频测试

更新日期：2024-04-23
型号：RF/mmW
厂商性质：生产厂家

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显微光电成像系统-探针台系统

显微光电成像系统-探针台系统是在金相显微镜基础上导入另一路光源，用于辐照样品以测试样品在特定波长及能量下的电气特性等测试目的。

更新日期：2024-04-23
型号：
厂商性质：生产厂家

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客制激光探针台系统（共聚焦显微镜光路）

激光探针台系统（共聚焦显微镜光路）$n超快短脉冲激光精细微加工修复系统$n激光可选择性去除特定材料而不损伤下层或基底$n激光最小加工精度1*1μm

更新日期：2024-04-23
型号：客制
厂商性质：生产厂家

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