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非接触迁移率测试系统

产品简介

LEIModel1605,是非接触迁移率测试系统,可对各种半导体材料和器件结构进行测试。无需制样,消除了样品制备引起的迁移率变化。

产品型号:LEIModel1605
更新时间:2025-01-23
厂商性质:生产厂家
访问量:295
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Capability:

  • 快速,非破坏

  • 霍尔迁移率

  • 方块电阻

  • 提高测试的重复性

  • 与VDP法测试保持一致

非接触迁移率测试系统








上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。



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