以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置

● 采用分光干涉法● 搭载高精度FFT膜厚解析系统（专zhuan利 第4834847号）● 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统● 可嵌入至各种制造设备。● 实时测量膜厚● 可对应远程操作、多点测量● 采...

PP-1000小角激光散射仪，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，简称SALS），可以对高分子材料和薄膜进行原位检测，实时解析。与SAXS和SANS的装置相比...

以最zui高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适shi合的方案。 不同评价方法对应不同设备

nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高...

●1个单元可轻松连续测量5个样品。●实现了在没有自动进样器的情况下难以实现的多个样品的连续测量，也可以通过改变每个样品的条件进行测量。●标准测量时间为1分钟的高速测量，通过自动调整从浓缩样品到稀释样品...

●支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量●还支持有机EL和大型显示器的光分布测量●可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带系数法获得总光谱通量、总光通量、色度、色温等...

该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围

●非接触式、非破坏性光学式膜厚检测●采用分光干涉法实现高度检测再现性●可进行高速的即时研磨检测●可穿越保护膜、观景窗等中间层的检测●可对应长工作距离、且容易安裝于产线或者设备中●体积小、省空間、设备安...

MINUK是一种可以评估纳米量级的透明异物和缺陷的设备，可以单次获取高度方向的信息，并且可以无损、非接触、非侵入性地进行测量。此外，还可以高速扫描任何表面并确定测量位置，而无需对焦。

本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。 根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。

● 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定)● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位● 可以测量从稀薄到浓厚溶液(~40% )的广泛浓度范围的...